Microchip presentó el nuevo analizador de ruido de fase 53100A para la medición precisa y exacta de señales de frecuencia, incluidas las generadas por relojes atómicos y otros módulos y subsistemas de referencia de frecuencia de alto rendimiento. El 53100A puede medir señales de radiofrecuencia (RF) hasta 200 MHZ, y puede adquirir señales de frecuencia y caracterizar el ruido de fase, la fluctuación, la desviación de Allan (ADEV) y la desviación de tiempo (TDEV) de forma rápida y precisa.
El analizador de ruido de fase se puede configurar de diferentes maneras y permite probar hasta tres dispositivos separados al mismo tiempo utilizando una única referencia, lo que permite una mayor capacidad para medir la estabilidad. Con las dimensiones de 344 x 215 x 91 mm (13,5 x 8,5 x 3,6 pulgadas), el dispositivo se puede integrar en sistemas de fabricación de equipos de prueba automatizados (ATE) y también es lo suficientemente potente para la metrología de laboratorio. Su interfaz proporciona compatibilidad con versiones anteriores con el flujo de datos y comandos de los equipos de prueba 51xxA de Microchip, lo que reduce la necesidad de rediseñar la infraestructura ATE existente.
El analizador de ruido de fase 53100A permite conectar un dispositivo de referencia de entrada a través del panel frontal a una frecuencia nominal diferente a la del dispositivo bajo prueba, esto proporciona flexibilidad y permite que una sola referencia caracterice una variedad de productos de oscilador. Los estándares de frecuencia de rubidio como el 8040C-LN de Microchip o un oscilador de cuarzo como el oscilador de cristal horneado 1000C de Microchip (OCXO) podrían usarse como referencia, así como los osciladores precisos de otros fabricantes.
El analizador de ruido de fase 53100A ha sido diseñado especialmente para ingenieros y científicos que necesitan una medición precisa y precisa de las señales de frecuencia generadas para redes 5G, centros de datos, sistemas de aviones comerciales y militares, vehículos espaciales, satélites de comunicación y aplicaciones de metrología.